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Pourquoi la croissance des cristaux PVT en carbure de silicium (SiC) ne peut-elle pas se passer des revêtements en carbure de tantale (TaC) ?13 2025-12

Pourquoi la croissance des cristaux PVT en carbure de silicium (SiC) ne peut-elle pas se passer des revêtements en carbure de tantale (TaC) ?

Dans le processus de croissance de cristaux de carbure de silicium (SiC) via la méthode de transport physique de vapeur (PVT), la température extrêmement élevée de 2 000 à 2 500 °C est une « arme à double tranchant » : tout en favorisant la sublimation et le transport des matériaux sources, elle intensifie également considérablement la libération d'impuretés de tous les matériaux du système de champ thermique, en particulier les éléments traces métalliques contenus dans les composants conventionnels en graphite à zone chaude. Une fois que ces impuretés pénètrent dans l’interface de croissance, elles endommageront directement la qualité centrale du cristal. C’est la raison fondamentale pour laquelle les revêtements en carbure de tantale (TaC) sont devenus une « option obligatoire » plutôt qu’un « choix facultatif » pour la croissance cristalline du PVT.
Quelles sont les méthodes d’usinage et de traitement des céramiques d’oxyde d’aluminium12 2025-12

Quelles sont les méthodes d’usinage et de traitement des céramiques d’oxyde d’aluminium

Chez Veteksemicon, nous relevons quotidiennement ces défis, en nous spécialisant dans la transformation des céramiques avancées d'oxyde d'aluminium en solutions répondant à des spécifications rigoureuses. Comprendre les bonnes méthodes d'usinage et de traitement est crucial, car une mauvaise approche peut entraîner des déchets coûteux et des défaillances de composants. Explorons les techniques professionnelles qui rendent cela possible.
Pourquoi du CO₂ est-il introduit pendant le processus de découpe des plaquettes ?10 2025-12

Pourquoi du CO₂ est-il introduit pendant le processus de découpe des plaquettes ?

L'introduction de CO₂ dans l'eau de découpe pendant la découpe des tranches est une mesure de processus efficace pour supprimer l'accumulation de charge statique et réduire le risque de contamination, améliorant ainsi le rendement de découpe et la fiabilité à long terme des puces.
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