L'introduction de CO₂ dans l'eau de découpe pendant la découpe des tranches est une mesure de processus efficace pour supprimer l'accumulation de charge statique et réduire le risque de contamination, améliorant ainsi le rendement de découpe et la fiabilité à long terme des puces.
Les plaquettes de silicium constituent la base des circuits intégrés et des dispositifs semi-conducteurs. Ils présentent une caractéristique intéressante : des bords plats ou de minuscules rainures sur les côtés. Il ne s'agit pas d'un défaut, mais d'un marqueur fonctionnel délibérément conçu. En fait, cette encoche sert de référence directionnelle et de marqueur d'identité tout au long du processus de fabrication.
Le polissage chimico-mécanique (CMP) élimine les excès de matière et les défauts de surface grâce à l'action combinée de réactions chimiques et d'abrasion mécanique. Il s’agit d’un processus clé pour parvenir à une planarisation globale de la surface de la tranche et il est indispensable pour les interconnexions multicouches en cuivre et les structures diélectriques à faible k. Dans la fabrication pratique
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