Nouvelles

Pendant le processus de croissance épitaxiale du SIC, une défaillance de la suspension en graphite enrobée du SIC peut se produire. Cet article effectue une analyse rigoureuse du phénomène de défaillance de la suspension de graphite enrobée SIC, qui comprend principalement deux facteurs: insuffisance du gaz épitaxiale SIC et défaillance du revêtement SIC.

Cet article traite principalement des avantages et des différences respectifs des processus d'épitaxie par jet moléculaire et des technologies de dépôt chimique en phase vapeur organométallique.

Le carbure de tantalum poreux de Vetek Semiconductor, en tant que nouvelle génération de matériau de croissance en cristal SIC, a de nombreuses excellentes propriétés de produit et joue un rôle clé dans une variété de technologies de traitement des semi-conducteurs.